机电工程技术2023，Vol.52Issue(6)：91-93,201,4.DOI:10.3969/j.issn.1009-9492.2023.06.019
基于研发特性的电子元器件试验与可靠性研究
Test and Reliability Study of Electronic Components Based on R&D Properties
魏开利 1果仕达 1徐立立 2杨静 2吴超云2
作者信息
- 1. 广电计量检测(北京)有限公司,北京 100076
- 2. 广州广电计量检测股份有限公司,广州 510656
- 折叠
引用本文复制引用
魏开利,果仕达,徐立立,杨静,吴超云..基于研发特性的电子元器件试验与可靠性研究[J].机电工程技术,2023,52(6):91-93,201,4.
