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基于平板电路的无源互调耦合测试方法

张可越 陈雄 赵小龙 曹智 张松昌 周昊楠 贺永宁

太赫兹科学与电子信息学报2023,Vol.21Issue(7):872-876,894,6.
太赫兹科学与电子信息学报2023,Vol.21Issue(7):872-876,894,6.DOI:10.11805/TKYDA2022197

基于平板电路的无源互调耦合测试方法

Passive Intermodulation coupling test methods based on planar circuits

张可越 1陈雄 1赵小龙 1曹智 1张松昌 1周昊楠 1贺永宁1

作者信息

  • 1. 西安交通大学电子与信息学部微电子学院,陕西 西安 710049||西安交通大学西安市微纳电子与系统集成重点实验室,陕西 西安 710049
  • 折叠

摘要

关键词

小型化测试板/无源互调/耦合测试/非线性杂散

Key words

compact test board/Passive Intermodulation/coupling test/nonlinear distortion

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张可越,陈雄,赵小龙,曹智,张松昌,周昊楠,贺永宁..基于平板电路的无源互调耦合测试方法[J].太赫兹科学与电子信息学报,2023,21(7):872-876,894,6.

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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