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基于FPGA和STM32的放大电路特性测试仪设计

孙艳丽 林星瑞 叶李锐 王国庆

舰船电子工程2023,Vol.43Issue(4):163-166,189,5.
舰船电子工程2023,Vol.43Issue(4):163-166,189,5.DOI:10.3969/j.issn.1672-9730.2023.04.034

基于FPGA和STM32的放大电路特性测试仪设计

Design of Amplifier Circuit Characteristic Tester Based on FPGA and STM32

孙艳丽 1林星瑞 1叶李锐 1王国庆1

作者信息

  • 1. 海军航空大学 烟台 264000
  • 折叠

摘要

关键词

FPGA/STM32/幅频特性/故障检测

Key words

FPGA/STM32/amplitude-frequency characteristics/fault detection

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙艳丽,林星瑞,叶李锐,王国庆..基于FPGA和STM32的放大电路特性测试仪设计[J].舰船电子工程,2023,43(4):163-166,189,5.

舰船电子工程

OACSTPCD

1672-9730

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