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基于注意力机制和特征融合的绝缘子缺陷检测

方毅 蒋作

现代电子技术2023,Vol.46Issue(15):49-54,6.
现代电子技术2023,Vol.46Issue(15):49-54,6.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2023.15.009

基于注意力机制和特征融合的绝缘子缺陷检测

Insulator defect detection based on attention mechanism and feature fusion

方毅 1蒋作2

作者信息

  • 1. 云南民族大学 电气信息工程学院,云南 昆明 650504
  • 2. 云南民族大学 数学与计算机科学学院,云南 昆明 650504
  • 折叠

摘要

关键词

改进SSD/绝缘子自爆/CBAM/FPN/Focal Loss/无人机巡检/注意力机制/特征融合

Key words

improved SSD/insulator self-detonation/CBAM/FPN/Focal Loss/drone inspection/attention mechanism/feature fusion

分类

电子信息工程

引用本文复制引用

方毅,蒋作..基于注意力机制和特征融合的绝缘子缺陷检测[J].现代电子技术,2023,46(15):49-54,6.

基金项目

国家自然科学基金项目(61866040) (61866040)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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