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基于自适应广义层次期望提高等效试验的抗辐射性能等效试验设计方法

张路路 金光 潘正强 陈思雅

现代应用物理2023,Vol.14Issue(2):176-181,6.
现代应用物理2023,Vol.14Issue(2):176-181,6.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2023.020604

基于自适应广义层次期望提高等效试验的抗辐射性能等效试验设计方法

Equivalent Test Design Method of Radiation Resistance Performance Based on GHEIEE

张路路 1金光 1潘正强 1陈思雅1

作者信息

  • 1. 国防科技大学系统工程学院,长沙410073
  • 折叠

摘要

关键词

抗辐射/等效试验设计/自适应广义期望提高/Kapton薄膜

Key words

radiation resistance/equivalent test design/adaptive generalized expected improvement/Kapton film

分类

能源科技

引用本文复制引用

张路路,金光,潘正强,陈思雅..基于自适应广义层次期望提高等效试验的抗辐射性能等效试验设计方法[J].现代应用物理,2023,14(2):176-181,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(72171231) (72171231)

现代应用物理

OACSTPCD

2095-6223

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