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脉冲窄化型抗辐射静态存储器单元加固结构

周昕杰 殷亚楠 郭刚 陈启明

现代应用物理2023,Vol.14Issue(2):182-186,5.
现代应用物理2023,Vol.14Issue(2):182-186,5.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2023.020605

脉冲窄化型抗辐射静态存储器单元加固结构

A Radiation Hardened SRAM Cell Layout With Pulse Quenching

周昕杰 1殷亚楠 1郭刚 2陈启明2

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214072
  • 2. 中国原子能科学研究院抗辐射应用技术创新中心,北京102413
  • 折叠

摘要

关键词

辐射效应/单粒子电荷共享效应/辐射加固/静态存储器单元

Key words

radiation effect/single event charge sharing/radiation hardened/SRAM cell

分类

能源科技

引用本文复制引用

周昕杰,殷亚楠,郭刚,陈启明..脉冲窄化型抗辐射静态存储器单元加固结构[J].现代应用物理,2023,14(2):182-186,5.

基金项目

抗辐射应用技术创新中心基金资助项目(KFZC2019040305) (KFZC2019040305)

现代应用物理

OACSTPCD

2095-6223

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