厦门大学学报（自然科学版）2023，Vol.62Issue(4)：638-646,9.DOI:10.6043/j.issn.0438-0479.202208001
基于GP-AdaLAM的芯片引脚缺陷快速检测算法
Fast detection algorithm of chip pin defect based on GP-AdaLAM
摘要
关键词
机器视觉/高斯金字塔-自适应局部仿射匹配/边缘检测/引脚测量/缺陷检测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
杜佳伟,彭劲松,何贞志,杨威威,陆向宁..基于GP-AdaLAM的芯片引脚缺陷快速检测算法[J].厦门大学学报（自然科学版）,2023,62(4):638-646,9.基金项目
国家自然科学基金项目(52075231) （52075231）
徐州市科技计划项目(KC21327) （KC21327）
江苏师范大学科研创新计划项目(2021XKT0371)) （2021XKT0371）
