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基于并联电抗器引发拍频效应的特高压交直流碰线保护改进方案研究

李厚源 郑涛 黄少锋 倪钰翔 于欢昌

电网技术2023,Vol.47Issue(8):3416-3425,10.
电网技术2023,Vol.47Issue(8):3416-3425,10.DOI:10.13335/j.1000-3673.pst.2023.0594

基于并联电抗器引发拍频效应的特高压交直流碰线保护改进方案研究

Improved Scheme of UHV AC-DC Line-touching Protection Based on Beat-frequency Effect Induced by Shunt Reactor

李厚源 1郑涛 1黄少锋 1倪钰翔 1于欢昌1

作者信息

  • 1. 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学),北京市 昌平区 102206
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摘要

关键词

交直流碰线故障/交直流碰线保护/并联电抗器/拍频特性/直流冲击电压

Key words

AC-DC ling-touching fault/AC-DC line-touching protection/shunt reactors/beat-frequency characteristics/DC impact voltage

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李厚源,郑涛,黄少锋,倪钰翔,于欢昌..基于并联电抗器引发拍频效应的特高压交直流碰线保护改进方案研究[J].电网技术,2023,47(8):3416-3425,10.

基金项目

国家自然科学基金联合基金项目(U2166205)?Project Supported by the Joint Funds of the National Natural Science Foundation of China(U2166205). (U2166205)

电网技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-3673

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