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基于轻量化YOLOX的电子元器件缺陷检测方法研究

吴栋梁 刘知贵

计算机工程与科学2023，Vol.45Issue(8)：1463-1471,9.
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计算机工程与科学2023，Vol.45Issue(8)：1463-1471,9.DOI:10.3969/j.issn.1007-130X.2023.08.015

基于轻量化YOLOX的电子元器件缺陷检测方法研究

An electronic component defect detection method based on lightweight YOLOX

吴栋梁 1刘知贵2

作者信息

  • 1. 西南科技大学信息工程学院,四川 绵阳 621000
  • 2. 西南科技大学信息工程学院,四川 绵阳 621000||西南科技大学计算机科学与技术学院,四川 绵阳 621000
  • 折叠

摘要

关键词

电子元器件/缺陷检测/YOLOX/注意力机制

Key words

electronic component/defect detection/YOLOX/attention mechanism

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

吴栋梁,刘知贵..基于轻量化YOLOX的电子元器件缺陷检测方法研究[J].计算机工程与科学,2023,45(8):1463-1471,9.

基金项目

国家自然科学基金(U21A20157) （U21A20157）

计算机工程与科学

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-130X

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