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In2O3掺杂对低压ZnO压敏电阻显微结构及电气性能的影响

劳学斌 任鑫 孔安廷 江海波 钟美莲 姚政 施利毅

电瓷避雷器Issue(4):58-63,6.
电瓷避雷器Issue(4):58-63,6.DOI:10.16188/j.isa.1003-8337.2023.04.008

In2O3掺杂对低压ZnO压敏电阻显微结构及电气性能的影响

Effect of In2O3 Doping on Microstructure and Electrical Properties of Low Voltage ZnO Varistors

劳学斌 1任鑫 1孔安廷 1江海波 1钟美莲 1姚政 1施利毅1

作者信息

  • 1. 上海大学理学院,上海200444
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摘要

关键词

低压ZnO压敏电阻/In2O3掺杂/残压比/正反极性

Key words

low voltage ZnO varistor/In2O3 doping/residual ratio/positive and negative polarity

引用本文复制引用

劳学斌,任鑫,孔安廷,江海波,钟美莲,姚政,施利毅..In2O3掺杂对低压ZnO压敏电阻显微结构及电气性能的影响[J].电瓷避雷器,2023,(4):58-63,6.

基金项目

上海市自然科学基金(编号:17ZR1410300).Project supported by Shanghai Municipal Natural Science Foundation(编号:17ZR1410300). (编号:17ZR1410300)

电瓷避雷器

1003-8337

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