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基于X射线荧光的铝硅共渗涂层厚度测量研究

余嘉博汪诚渠逸李秋良

空军工程大学学报2023，Vol.24Issue(4)：20-27,8.

空军工程大学学报2023，Vol.24Issue(4)：20-27,8.DOI:10.3969/j.issn.2097-1915.2023.04.004

Study of the Measurement of the Thickness of Aluminum-Silicon Permeability Layer Based on X-Ray Fluorescence

余嘉博 ¹汪诚 ¹渠逸 ¹李秋良²

作者信息

X射线荧光检测/多元素双层膜/涂层厚度

X-ray fluorescence detection/multielement bilayer film/coating thickness

航空航天

余嘉博,汪诚,渠逸,李秋良..基于X射线荧光的铝硅共渗涂层厚度测量研究[J].空军工程大学学报,2023,24(4):20-27,8.

陕西省自然科学基金(2023-JC-QN-0696) （2023-JC-QN-0696）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：2097-1915

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