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一种高压直采ADC的抗总剂量辐照设计

曹梦琦 王晓晖 高炜祺

空间电子技术2023,Vol.20Issue(4):45-49,5.
空间电子技术2023,Vol.20Issue(4):45-49,5.DOI:10.3969/j.issn.1674-7135.2023.04.007

一种高压直采ADC的抗总剂量辐照设计

A total dose radiation hardened design of high voltage direct sampling ADC

曹梦琦 1王晓晖 2高炜祺1

作者信息

  • 1. 重庆吉芯科技有限公司,重庆 400060
  • 2. 西安电子科技大学,西安 710071
  • 折叠

摘要

关键词

高压直采ADC/MOS管阈值电压/二极管死区漏电/总剂量

Key words

high voltage direct sampling ADC/threshold voltage of MOS transistor/dead zone leakage current of diode/total dose radiation

分类

电子信息工程

引用本文复制引用

曹梦琦,王晓晖,高炜祺..一种高压直采ADC的抗总剂量辐照设计[J].空间电子技术,2023,20(4):45-49,5.

空间电子技术

1674-7135

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