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基于X射线图像的PCB缺陷检测系统

林健 詹道桦

现代电子技术2023,Vol.46Issue(18):P.25-32,8.
现代电子技术2023,Vol.46Issue(18):P.25-32,8.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2023.18.005

基于X射线图像的PCB缺陷检测系统

林健 1詹道桦1

作者信息

  • 1. 广东工业大学机电工程学院,广东广州510006
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摘要

关键词

印刷电路板(PCB)/缺陷检测系统/X射线图像/YOLOv7算法/多尺度融合/损失函数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

林健,詹道桦..基于X射线图像的PCB缺陷检测系统[J].现代电子技术,2023,46(18):P.25-32,8.

基金项目

国家自然科学基金项目:光栅尺测量误差耦合产生机理及深度强化学习补偿机制研究(62171142) (62171142)

广东省自然科学基金项目:基于深度学习的光栅尺耦合误差补偿机制研究(2021A1515011908)。 (2021A1515011908)

现代电子技术

OA北大核心CSTPCD

1004-373X

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