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GABP算法构建高精度CMOS电压自举采样开关性能预测模型

张伟哲 刘博 段文娟 王琳 孟庆端

电子器件2023,Vol.46Issue(4):P.914-920,7.
电子器件2023,Vol.46Issue(4):P.914-920,7.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2023.04.007

GABP算法构建高精度CMOS电压自举采样开关性能预测模型

张伟哲 1刘博 1段文娟 1王琳 1孟庆端1

作者信息

  • 1. 河南科技大学电气工程学院,河南洛阳471023
  • 折叠

摘要

关键词

模拟集成电路/遗传算法/BP神经网络/自举采样开关电路/辅助设计

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张伟哲,刘博,段文娟,王琳,孟庆端..GABP算法构建高精度CMOS电压自举采样开关性能预测模型[J].电子器件,2023,46(4):P.914-920,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61704049) (61704049)

河南省科技厅科技计划项目(192102210087) (192102210087)

河南科技大学研究生质量提升工程项目(2020ZYL-008)。 (2020ZYL-008)

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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