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计及趋肤效应的套管载流结构损耗分析

杜林 张科 冯辉 贺鹏 曹雅玮 杨峰

电工技术学报2023,Vol.38Issue(17):P.4746-4756,11.
电工技术学报2023,Vol.38Issue(17):P.4746-4756,11.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211633

计及趋肤效应的套管载流结构损耗分析

杜林 1张科 1冯辉 1贺鹏 2曹雅玮 3杨峰4

作者信息

  • 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学),重庆400044
  • 2. 国网湖南省电力有限公司,长沙410004
  • 3. 国网四川省电力公司天府新区供电公司,成都610000
  • 4. 西南大学工程技术学院,重庆400716
  • 折叠

摘要

关键词

趋肤效应/套管/有功损耗/谐波

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杜林,张科,冯辉,贺鹏,曹雅玮,杨峰..计及趋肤效应的套管载流结构损耗分析[J].电工技术学报,2023,38(17):P.4746-4756,11.

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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