|
国家科技期刊平台
|
注册
中文
EN
首页
|
期刊导航
|
数字技术与应用
|
超大规模集成电路适应性测试方法综述
超大规模集成电路适应性测试方法综述
张鲁萍
数字技术与应用
2023,Vol.41
Issue(9):134-136,3.
下载
✕
数字技术与应用
2023,Vol.41
Issue(9)
:134-136,3.
DOI:10.19695/j.cnki.cn12-1369.2023.09.44
超大规模集成电路适应性测试方法综述
张鲁萍
1
作者信息
1.
安庆师范大学计算机与信息学院
折叠
摘要
分类
电子信息工程
引用本文
复制引用
张鲁萍..超大规模集成电路适应性测试方法综述[J].数字技术与应用,2023,41(9):134-136,3.
数字技术与应用
ISSN:
1007-9416
下载
访问量
0
|
下载量
0
段落导航
相关论文
摘要
分类
引用文本