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一种基于无害处理识别的嵌入式设备漏洞检测方法

周建华 李丰 湛蓝蓝 杜跃进 霍玮

信息安全研究2023,Vol.9Issue(10):954-960,7.
信息安全研究2023,Vol.9Issue(10):954-960,7.DOI:10.12379/j.issn.2096-1057.2023.10.04

一种基于无害处理识别的嵌入式设备漏洞检测方法

A Vulnerability Detecting Approach Based on Sanitizer Identification for Embedded Devices

周建华 1李丰 1湛蓝蓝 2杜跃进 3霍玮2

作者信息

  • 1. 中国科学院信息工程研究所 北京 100093||中国科学院网络测评技术重点实验室 北京 100195||网络安全防护技术北京市重点实验室 北京 100195
  • 2. 中国科学院信息工程研究所 北京 100093||中国科学院大学网络空间安全学院 北京 100049||中国科学院网络测评技术重点实验室 北京 100195||网络安全防护技术北京市重点实验室 北京 100195
  • 3. 中国科学院信息工程研究所 北京 100093||中国科学院大学网络空间安全学院 北京 100049||三六零科技集团有限公司 北京 100015
  • 折叠

摘要

关键词

嵌入式设备/网络安全/漏洞检测/污点分析/无害处理识别

Key words

embedded device/cybersecurity/vulnerability detection/taint analysis/taint sanitizer identification

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周建华,李丰,湛蓝蓝,杜跃进,霍玮..一种基于无害处理识别的嵌入式设备漏洞检测方法[J].信息安全研究,2023,9(10):954-960,7.

基金项目

国家重点研发计划项目(2022YFB3103900) (2022YFB3103900)

国家自然科学基金项目(62202462) (62202462)

信息安全研究

OA北大核心CSCDCSTPCD

2096-1057

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