现代电子技术2023，Vol.46Issue(20)：39-43,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2023.20.008
基于ATE的传输延迟测试方法优化
Transmission delay test optimization based on ATE
李灿 1韩先虎 1程法勇 1郭晓宇 1王建超1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035
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摘要
关键词
自动测试设备(ATE)/传输延迟/集成电路/程控/时间测量单元(TMU)/MOSFETKey words
ATE/transmission delay/integrated circuit/programm control/TMU/MOSFET分类
电子信息工程引用本文复制引用
李灿,韩先虎,程法勇,郭晓宇,王建超..基于ATE的传输延迟测试方法优化[J].现代电子技术,2023,46(20):39-43,5.
