基于ATE的传输延迟测试方法优化OACSTPCD
Transmission delay test optimization based on ATE
目前利用数模混合集成电路自动测试机(ATE)测试系统测试纳秒级传输延迟时,由于信号发生单元驱动能力限制,多采用程控外接仪器进行测试,大批量测试时无法满足生产需求.文中介绍数模混合集成ATE测试系统的工作架构和传输延迟时间的测试原理,分析了基于数模混合ATE测试系统的时间测量单元(TMU)的工作原理和采用程控外接仪器的时间测试方法,通过对两种测试方法的对比,总结了优化TMU测试方法取代程控外接仪器的必要性.以MOSFET为研究对象,研究导致传输延迟…查看全部>>
李灿;韩先虎;程法勇;郭晓宇;王建超
中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035
电子信息工程
自动测试设备(ATE)传输延迟集成电路程控时间测量单元(TMU)MOSFET
ATEtransmission delayintegrated circuitprogramm controlTMUMOSFET
《现代电子技术》 2023 (20)
39-43,5
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