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X光弯晶成像金属薄膜面密度测量技术

司昊轩许昊杜慧瑶伊圣振王占山

强激光与粒子束2023，Vol.35Issue(11)：43-49,7.

强激光与粒子束2023，Vol.35Issue(11)：43-49,7.DOI:10.11884/HPLPB202335.230161

Areal density measurement technology for metal foils based on X-ray bent crystal imaging

司昊轩 ¹许昊 ¹杜慧瑶 ¹伊圣振 ¹王占山¹

作者信息

1. 同济大学物理科学与工程学院,精密光学工程技术研究所,上海 200092||同济大学先进微结构材料教育部重点实验室,上海 200092||上海市数字光学前沿科学研究基地,上海 200092||上海市全光谱高性能光学薄膜器件与应用专业技术服务平台,上海 200092
折叠

金属薄膜/X射线成像/超环面弯晶/高谱分辨/面密度测量

metal foil/X-ray imaging/toroidal crystal/high spectral resolution/surface density measurement

数理科学

司昊轩,许昊,杜慧瑶,伊圣振,王占山..X光弯晶成像金属薄膜面密度测量技术[J].强激光与粒子束,2023,35(11):43-49,7.

国家自然科学基金项目(11875202) （11875202）

国家重点研发计划项目(2019YFE03080200) （2019YFE03080200）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1001-4322

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