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利用55K芯片进行小麦生育期相关性状的QTL定位及效应分析

温明星肖进徐涛孙丽王宗宽王海燕王秀娥

作物学报2023，Vol.49Issue(12)：3188-3203,16.

作物学报2023，Vol.49Issue(12)：3188-3203,16.DOI:10.3724/SP.J.1006.2023.31014

利用55K芯片进行小麦生育期相关性状的QTL定位及效应分析

Mapping and effect analysis of QTL for phenology traits in wheat using 55K chip technology

温明星 ¹肖进 ²徐涛 ²孙丽 ²王宗宽 ²王海燕 ²王秀娥²

作者信息

1. 镇江市农业科学院,江苏句容 212400||作物遗传与种质创新利用全国重点实验室/南京农业大学,江苏南京 210095
2. 作物遗传与种质创新利用全国重点实验室/南京农业大学,江苏南京 210095
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摘要

关键词

小麦/生育期/QTL/SNP标记

Key words

Triticum aestivum L./phenology traits/QTL/SNP markers

引用本文复制引用

温明星,肖进,徐涛,孙丽,王宗宽,王海燕,王秀娥..利用55K芯片进行小麦生育期相关性状的QTL定位及效应分析[J].作物学报,2023,49(12):3188-3203,16.

基金项目

本研究由作物遗传与种质创新国家重点实验室开放基金项目(ZW20202009)资助. This study was supported by the Open Fund of the State Key Laboratory of Crop Genetics and Germplasm Enhancement(ZW20202009). （ZW20202009）

作物学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：0496-3490

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