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界面氧化对碳-铜接触副电接触性能的影响

高国强 王青松 何志江 肖嵩 王虹 钱鹏宇 彭伟 吴广宁

中国电机工程学报2023,Vol.43Issue(21):8502-8510,9.
中国电机工程学报2023,Vol.43Issue(21):8502-8510,9.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.221877

界面氧化对碳-铜接触副电接触性能的影响

Influence of Interface Oxidation on the Electrical Contact Properties of C-Cu Contact Pairs

高国强 1王青松 1何志江 2肖嵩 1王虹 1钱鹏宇 1彭伟 1吴广宁1

作者信息

  • 1. 西南交通大学电气工程学院,四川省成都市 611756
  • 2. 中国能源建设集团安徽省电力设计院有限公司,安徽省 合肥市 230601
  • 折叠

摘要

关键词

C/Cu接触副/载流摩擦磨损/电接触特性/界面氧化

Key words

C/Cu contact pairs/current-carrying friction and wear/electrical contact characteristics/interfacial oxidation

分类

交通工程

引用本文复制引用

高国强,王青松,何志江,肖嵩,王虹,钱鹏宇,彭伟,吴广宁..界面氧化对碳-铜接触副电接触性能的影响[J].中国电机工程学报,2023,43(21):8502-8510,9.

基金项目

国家优秀青年科学基金项目(51922090) (51922090)

国家自然科学基金-联合基金集成项目(U1966602) (U1966602)

四川省杰出青年科技人才项目(2019JDJQ0019).National Excellent Youth Science Foundation Project(51922090) (2019JDJQ0019)

Smart Grid Joint Fund of the National Natural Science Foundation of China(U1966602) (U1966602)

Sichuan Science and Technology General Project(2019JDJQ0019). (2019JDJQ0019)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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