光通信技术2023，Vol.47Issue(6)：38-41,4.DOI:10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2023.06.008
一种用于硅基高速调制器测试的有源Bias-T电路
Active Bias-T circuit for testing silicon-based high-speed modulator
陈碧超 1赵恒1
作者信息
- 1. 联合微电子中心有限责任公司,重庆 400000
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摘要
关键词
硅基高速调制器/热插拔/有源T型偏置器/信号抑制Key words
silicon-based high-speed modulator/hot swap/active Bias-T/signal suppression分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈碧超,赵恒..一种用于硅基高速调制器测试的有源Bias-T电路[J].光通信技术,2023,47(6):38-41,4.
