基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化OACSTPCD
ATE-based optimization of testing technology for RF parameter SFDR of high-speed DAC
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值.为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比.结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值.
When using the integrated circuit automatic test equipment(ATE)to test the radio frequency(RF)parameters of high-speed digital to analog converter(DAC),due to reasons such as long PCB wiring,high losses,and greater signal jitter provided by the machine compared to the actual installation,the testing indicators of high-speed DAC RF parameters on ATE are lower than the actual installation test values.Therefore,the working principle and testing methods of DAC c…查看全部>>
沈锺杰;张一圣;孔锐;王建超
中国电子科技集团公司 第五十八研究所, 江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司 第五十八研究所, 江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司 第五十八研究所, 江苏 无锡 214035中国电子科技集团公司 第五十八研究所, 江苏 无锡 214035
电子信息工程
集成电路自动测试设备(ATE)高速数模转换器射频参数SFDR参数测试码PCB测试板
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《现代电子技术》 2024 (2)
16-20,5
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