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基于整体退火遗传小波网络的计量终端可靠性预测

徐宏伟 丛中笑 阳晓路 周忠明 陈寅生 林海军

电测与仪表2024,Vol.61Issue(2):P.179-184,6.
电测与仪表2024,Vol.61Issue(2):P.179-184,6.DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2024.02.026

基于整体退火遗传小波网络的计量终端可靠性预测

徐宏伟 1丛中笑 1阳晓路 1周忠明 1陈寅生 2林海军2

作者信息

  • 1. 贵州电网有限责任公司计量中心,贵阳550002
  • 2. 哈尔滨理工大学,哈尔滨150080
  • 折叠

摘要

关键词

整体退火遗传算法/小波神经网络/计量终端/软件可靠性/预测模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

徐宏伟,丛中笑,阳晓路,周忠明,陈寅生,林海军..基于整体退火遗传小波网络的计量终端可靠性预测[J].电测与仪表,2024,61(2):P.179-184,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61803128)。 (61803128)

电测与仪表

OA北大核心CSTPCD

1001-1390

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