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GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制

刘智鹏 魏来 李庆民 薛乃凡 胡琦

高电压技术2024，Vol.50Issue(1)：P.359-369,11.
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高电压技术2024，Vol.50Issue(1)：P.359-369,11.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20222005

GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制

刘智鹏 1魏来 1李庆民 1薛乃凡 1胡琦2

作者信息

  • 1. 华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206
  • 2. 江西省电力有限公司,南昌330000
  • 折叠

摘要

关键词

支柱绝缘子/放电脆裂/界面缺陷/缺陷演化/相场仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘智鹏,魏来,李庆民,薛乃凡,胡琦..GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制[J].高电压技术,2024,50(1):P.359-369,11.

基金项目

国家自然科学基金(51737005 （）

52127812 （）

51929701)。 （）

高电压技术

OA北大核心CSTPCD

1003-6520

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