红外无损检测缺陷尺寸测量方法研究OA北大核心CSTPCD
红外无损检测技术可有效检测金属、非金属、复合材料的内部缺陷,缺陷尺寸是评估缺陷影响的关键参数,本文以半宽高测量算法来实现对缺陷尺寸的半自动测量,首先手动绘制过缺陷中心的直线构成空间像素曲线,采用Savitzky-Golay滤波算法滤波,并自动寻找空间像素曲线半宽高位置,从而实现对缺陷尺寸的测量。通过对塑料试件、碳钢试件、碳纤维复合材料试件研究发现,不同时刻红外图像测量出的缺陷尺寸具有不同的误差,采用清晰时刻红外图像,测量误差在10%内,采用模糊时刻红外图像,测量误差在20%左右,相对于传统手动测量缺陷尺寸,本文方法将有效提高缺陷尺寸测量的精度。
江海军;马兆庆;王俊虎;张凯;林鑫;
南京诺威尔光电系统有限公司,江苏南京210014航天材料及工艺研究所,北京100076
电子信息工程
红外无损检测半宽高测量缺陷尺寸缺陷测量
《红外技术》 2024 (001)
P.107-116 / 10
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