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红外无损检测缺陷尺寸测量方法研究

江海军 马兆庆 王俊虎 张凯 林鑫

红外技术2024,Vol.46Issue(1):P.107-116,10.
红外技术2024,Vol.46Issue(1):P.107-116,10.

红外无损检测缺陷尺寸测量方法研究

江海军 1马兆庆 2王俊虎 2张凯 1林鑫2

作者信息

  • 1. 南京诺威尔光电系统有限公司,江苏南京210014
  • 2. 航天材料及工艺研究所,北京100076
  • 折叠

摘要

关键词

红外无损检测/半宽高测量/缺陷尺寸/缺陷测量

分类

电子信息工程

引用本文复制引用

江海军,马兆庆,王俊虎,张凯,林鑫..红外无损检测缺陷尺寸测量方法研究[J].红外技术,2024,46(1):P.107-116,10.

红外技术

OA北大核心CSTPCD

1001-8891

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