基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计OACSTPCD
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与…查看全部>>
侯晓宇;郭贺;常艳昭
中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
电子信息工程
FPGAFLASH存储器三温测试自动化测试设备MSCAN多工位测试
《现代电子技术》 2024 (4)
P.39-42,4
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