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碳化硅同质外延质量影响因素的分析与综述

郭钰 刘春俊 张新河 沈鹏远 张博 娄艳芳 彭同华 杨建

人工晶体学报2024,Vol.53Issue(2):P.210-217,8.
人工晶体学报2024,Vol.53Issue(2):P.210-217,8.

碳化硅同质外延质量影响因素的分析与综述

郭钰 1刘春俊 2张新河 3沈鹏远 2张博 2娄艳芳 2彭同华 2杨建2

作者信息

  • 1. 北京天科合达半导体股份有限公司,北京102600 深圳市重投天科半导体有限公司,深圳518108
  • 2. 北京天科合达半导体股份有限公司,北京102600
  • 3. 深圳市重投天科半导体有限公司,深圳518108
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅/同质外延/外延生长/缺陷/位错/小坑

分类

数理科学

引用本文复制引用

郭钰,刘春俊,张新河,沈鹏远,张博,娄艳芳,彭同华,杨建..碳化硅同质外延质量影响因素的分析与综述[J].人工晶体学报,2024,53(2):P.210-217,8.

基金项目

北京市科协卓越工程师培养计划。 ()

人工晶体学报

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