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基于腔衰荡光谱技术的半导体光放大器增益测量

景志广 陈海燕

高师理科学刊2024,Vol.44Issue(2):P.53-55,3.
高师理科学刊2024,Vol.44Issue(2):P.53-55,3.DOI:10.3969/j.issn.1007-9831.2024.02.010

基于腔衰荡光谱技术的半导体光放大器增益测量

景志广 1陈海燕1

作者信息

  • 1. 长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州434023
  • 折叠

摘要

关键词

衰荡光谱/半导体光放大器/腔衰荡时间/增益测量

分类

数理科学

引用本文复制引用

景志广,陈海燕..基于腔衰荡光谱技术的半导体光放大器增益测量[J].高师理科学刊,2024,44(2):P.53-55,3.

高师理科学刊

1007-9831

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