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基于优化长短期记忆神经网络的IGBT寿命预测模型

任宏宇 余瑶怡 杜雄 刘俊良 周君洁

电工技术学报2024,Vol.39Issue(4):P.1074-1086,13.
电工技术学报2024,Vol.39Issue(4):P.1074-1086,13.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.222231

基于优化长短期记忆神经网络的IGBT寿命预测模型

任宏宇 1余瑶怡 1杜雄 1刘俊良 1周君洁1

作者信息

  • 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学),重庆400044
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摘要

关键词

IGBT/可靠性/寿命预测/模态分解/失效分布

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

任宏宇,余瑶怡,杜雄,刘俊良,周君洁..基于优化长短期记忆神经网络的IGBT寿命预测模型[J].电工技术学报,2024,39(4):P.1074-1086,13.

基金项目

国家杰出青年科学基金(52125704) (52125704)

中央高校基本科研业务费专项资金(2022CDJHLW009)资助项目。 (2022CDJHLW009)

电工技术学报

OA北大核心CSTPCD

1000-6753

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