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基于振电信号分析与二元维纳的断路器附件机械寿命预测

孙曙光 邵旭 王景芹 魏硕

高电压技术2024，Vol.50Issue(2)：P.503-514,12.
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高电压技术2024，Vol.50Issue(2)：P.503-514,12.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20221244

基于振电信号分析与二元维纳的断路器附件机械寿命预测

孙曙光 1邵旭 1王景芹 2魏硕1

作者信息

  • 1. 河北工业大学人工智能与数据科学学院,天津300130
  • 2. 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津300130
  • 折叠

摘要

关键词

万能式断路器/振电信号/性能退化/二元维纳过程/剩余寿命预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙曙光,邵旭,王景芹,魏硕..基于振电信号分析与二元维纳的断路器附件机械寿命预测[J].高电压技术,2024,50(2):P.503-514,12.

基金项目

河北省自然科学基金(E2021202136)。 （E2021202136）

高电压技术

OA北大核心CSTPCD

1003-6520

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