一种抑制封装中电源噪声的新型电磁带隙结构

李津缪旻

北京信息科技大学学报(自然科学版)2024，Vol.39Issue(1)：P.1-6,6.

北京信息科技大学学报(自然科学版)2024，Vol.39Issue(1)：P.1-6,6.DOI:10.16508/j.cnki.11-5866/n.2024.01.001

李津 ¹缪旻¹

作者信息

1. 北京信息科技大学信息与通信系统信息产业部重点实验室,北京100101 北京信息科技大学光电测试技术及仪器教育部重点实验室,北京100101 北京信息科技大学智能芯片与网络研究中心,北京100101
折叠

系统级封装/同步开关噪声/电源完整性/电磁带隙结构

信息技术与安全科学

李津,缪旻..一种抑制封装中电源噪声的新型电磁带隙结构[J].北京信息科技大学学报(自然科学版),2024,39(1):P.1-6,6.

国家自然科学基金项目(62074017)。（62074017）

ISSN：1674-6864

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