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底隙对装药发射安全性影响机理的数值模拟研究

吴世博 陈卫东 路胜卓 吴培文 孙明武 焦子腾

爆炸与冲击2024,Vol.44Issue(3):P.131-143,13.
爆炸与冲击2024,Vol.44Issue(3):P.131-143,13.DOI:10.11883/bzycj-2023-0222

底隙对装药发射安全性影响机理的数值模拟研究

吴世博 1陈卫东 1路胜卓 1吴培文 1孙明武 1焦子腾1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工程大学航天与建筑工程学院,黑龙江哈尔滨150001
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摘要

关键词

底隙/装药/发射安全性/物质点法

分类

数理科学

引用本文复制引用

吴世博,陈卫东,路胜卓,吴培文,孙明武,焦子腾..底隙对装药发射安全性影响机理的数值模拟研究[J].爆炸与冲击,2024,44(3):P.131-143,13.

爆炸与冲击

OA北大核心CSTPCD

1001-1455

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