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基于应变迁移率模型对应变沟道AlGaN/GaNHEMT器件电子输运特性的研究

刘子玉 陈永和 马旺 孙远远 杨叶

桂林电子科技大学学报2023,Vol.43Issue(6):P.431-438,8.
桂林电子科技大学学报2023,Vol.43Issue(6):P.431-438,8.DOI:10.3969/1673-808X.202292

基于应变迁移率模型对应变沟道AlGaN/GaNHEMT器件电子输运特性的研究

刘子玉 1陈永和 1马旺 1孙远远 1杨叶1

作者信息

  • 1. 桂林电子科技大学广西精密导航技术与应用重点实验室,广西桂林541004
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摘要

关键词

GaN/AlGaN/2DEG/应变沟道/有效迁移率/电子输运

分类

信息技术与安全科学

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刘子玉,陈永和,马旺,孙远远,杨叶..基于应变迁移率模型对应变沟道AlGaN/GaNHEMT器件电子输运特性的研究[J].桂林电子科技大学学报,2023,43(6):P.431-438,8.

基金项目

广西自然科学基金(2018GXNSFAA138025) (2018GXNSFAA138025)

广西科技计划(AD18281037)。 (AD18281037)

桂林电子科技大学学报

1673-808X

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