| 注册
首页|期刊导航|桂林电子科技大学学报|工艺参数、退火温度对钽氮化物薄膜生长速率、相结构及电学性能的影响

工艺参数、退火温度对钽氮化物薄膜生长速率、相结构及电学性能的影响

李海鸥 牟凯瑞 刘兴鹏 杨曌

桂林电子科技大学学报2023,Vol.43Issue(6):P.486-492,7.
桂林电子科技大学学报2023,Vol.43Issue(6):P.486-492,7.DOI:10.3969/1673-808X.2022113

工艺参数、退火温度对钽氮化物薄膜生长速率、相结构及电学性能的影响

李海鸥 1牟凯瑞 1刘兴鹏 1杨曌1

作者信息

  • 1. 桂林电子科技大学广西精密导航技术与应用重点实验室,广西桂林541004 广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室,广东肇庆526060
  • 折叠

摘要

关键词

TaN薄膜/磁控溅射/薄膜结构/电阻温度系数(TCR)/退火

分类

数理科学

引用本文复制引用

李海鸥,牟凯瑞,刘兴鹏,杨曌..工艺参数、退火温度对钽氮化物薄膜生长速率、相结构及电学性能的影响[J].桂林电子科技大学学报,2023,43(6):P.486-492,7.

基金项目

新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室开放基金(FHR-JS-201909007)。 (FHR-JS-201909007)

桂林电子科技大学学报

1673-808X

访问量2
|
下载量0
段落导航相关论文