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界面湿放电下护套ATH填料析出对绝缘子芯棒酥朽老化的影响

彭雅楠 李文栋 曾世胤 张宇程 邓禹 张冠军

高电压技术2024，Vol.50Issue(4)：P.1673-1683,11.
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高电压技术2024，Vol.50Issue(4)：P.1673-1683,11.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20230740

界面湿放电下护套ATH填料析出对绝缘子芯棒酥朽老化的影响

彭雅楠 1李文栋 1曾世胤 1张宇程 1邓禹 2张冠军1

作者信息

  • 1. 西安交通大学电工材料电气绝缘全国重点实验室,西安710049
  • 2. 中国电力科学研究院有限公司,北京100192
  • 折叠

摘要

关键词

复合绝缘子/人工加速老化/芯棒酥朽/界面湿放电/护套填料析出

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

彭雅楠,李文栋,曾世胤,张宇程,邓禹,张冠军..界面湿放电下护套ATH填料析出对绝缘子芯棒酥朽老化的影响[J].高电压技术,2024,50(4):P.1673-1683,11.

基金项目

国家电网有限公司总部管理科技项目(复合外绝缘可靠性评估及沿海地区输电线路污闪特性研究)(5500-202155502A-0-5-ZN)。 （复合外绝缘可靠性评估及沿海地区输电线路污闪特性研究）

高电压技术

OA北大核心CSTPCD

1003-6520

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