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寄生参数对基于常通型SiC JFET器件的中压直流固态断路器过电压的影响及抑制方法

何东 李俊桦 兰征 王伟 曾进辉

南方电网技术2024,Vol.18Issue(4):P.19-29,11.
南方电网技术2024,Vol.18Issue(4):P.19-29,11.DOI:10.13648/j.cnki.issn1674-0629.2024.04.003

寄生参数对基于常通型SiC JFET器件的中压直流固态断路器过电压的影响及抑制方法

何东 1李俊桦 1兰征 1王伟 2曾进辉1

作者信息

  • 1. 湖南工业大学电气与信息工程学院,湖南株洲412007
  • 2. 湖南大学电气与信息工程学院,长沙410082
  • 折叠

摘要

关键词

固态断路器/碳化硅结型场效应晶体管/串联结构/寄生参数/过电压

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

何东,李俊桦,兰征,王伟,曾进辉..寄生参数对基于常通型SiC JFET器件的中压直流固态断路器过电压的影响及抑制方法[J].南方电网技术,2024,18(4):P.19-29,11.

基金项目

湖南省自然科学基金资助项目(2021JJ40172) (2021JJ40172)

湖南省教育厅资助科研项目(20C0637)。 (20C0637)

南方电网技术

OA北大核心CSTPCD

1674-0629

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