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基于硅橡胶分子链陷阱变化的复合绝缘子老化现象

沈瑶 刘兴杰 梁英 薄天利 赵涛

电工技术学报2024，Vol.39Issue(17)：P.5545-5554,10.
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电工技术学报2024，Vol.39Issue(17)：P.5545-5554,10.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.231031

基于硅橡胶分子链陷阱变化的复合绝缘子老化现象

沈瑶 1刘兴杰 1梁英 1薄天利 1赵涛2

作者信息

  • 1. 宁夏大学电子与电气工程学院,银川750021
  • 2. 华北电力大学电力工程系,保定071003
  • 折叠

摘要

关键词

硅橡胶/复合绝缘子/老化/化学陷阱/陷阱分布

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

沈瑶,刘兴杰,梁英,薄天利,赵涛..基于硅橡胶分子链陷阱变化的复合绝缘子老化现象[J].电工技术学报,2024,39(17):P.5545-5554,10.

基金项目

国家自然科学基金地区项目(12062023) （12062023）

自治区重点研发计划社发领域项目(2021BEG03029)资助。 （2021BEG03029）

电工技术学报

OA北大核心CSTPCD

1000-6753

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