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基于热氧加速老化试验的O型密封圈寿命评估

黄瀚元 周源 赖建伟

舰船电子工程2024,Vol.44Issue(7):P.147-150,4.
舰船电子工程2024,Vol.44Issue(7):P.147-150,4.DOI:10.3969/j.issn.1672-9730.2024.07.031

基于热氧加速老化试验的O型密封圈寿命评估

黄瀚元 1周源 1赖建伟1

作者信息

  • 1. 海军工程大学兵器工程学院,武汉430033
  • 折叠

摘要

关键词

O型密封圈/贮存寿命/热氧老化/加速退化试验

分类

军事科技

引用本文复制引用

黄瀚元,周源,赖建伟..基于热氧加速老化试验的O型密封圈寿命评估[J].舰船电子工程,2024,44(7):P.147-150,4.

舰船电子工程

OACSTPCD

1672-9730

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