电网二次设备自主芯片失效率预计方法及其验证OA北大核心CSTPCD
电网二次设备的核心芯片严重依赖进口,存在断供风险,威胁电网安全。同时,现有二次设备中自主芯片部署数量少,退化机理复杂,可靠性未知,如何评估其可靠性有待研究。有鉴于此,该文提出了适用于二次设备芯片的失效率预计方法,并通过现有进口芯片验证其有效性。具体的,首先,分析介绍了现有新研产品的失效率预计方法;其次,结合二次设备自主芯片特点,提出了加速寿命试验与环境因子修正相结合的芯片失效率预计方法;再次,结合二次设备芯片-模块-整机结构和设备失效统计数据,提…查看全部>>
舒治淮;李仲青;王雨茜;喇军;景子洋;刘宇;薛安成
国家电网有限公司国家电力调度控制中心,北京市西城区100031中国电力科学研究院有限公司,北京市海淀区100192新能源电力系统全国重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206新能源电力系统全国重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206新能源电力系统全国重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206国家电网有限公司国家电力调度控制中心,北京市西城区100031新能源电力系统全国重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206
动力与电气工程
芯片二次设备Arrhenius模型加速寿命试验环境因子失效率
《电网技术》 2024 (9)
P.3844-3851,8
国家重点研发计划项目(2021YFB2401000)。
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