X-Debugger:基于FPGA的扫描调试器设计及实现OA北大核心CSTPCD
针对芯片硅后调试面临内部信号可观测性差、可控制性弱、内部状态不易恢复重建等问题,本文设计和实现了一款基于现场可编程门阵列(FPGA)的快速扫描调试器XDebugger。该调试器复用传统可测试设计(DFT)扫描链路逻辑,在芯片的设计阶段插入基于功能模块前导码的扫描控制电路,实现了芯片内部各数字逻辑模块信号100%可见;通过基于FPGA的扫描调试器X-Debugger可以快速完成芯片内部寄存器状态获取和修改,并结合硬件加速器可以完成芯片内部逻辑状态的…查看全部>>
李小波;唐志敏
处理器芯片全国重点实验室(中国科学院计算技术研究所),北京100190中国科学院大学计算机科学与技术学院,北京100049
电子信息工程
硅后调试现场可编程门阵列(FPGA)扫描链寄存器回读状态重建
《高技术通讯》 2024 (8)
P.824-831,8
国家自然科学基金(61732018,61872335,61802367)资助项目。
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