首页|期刊导航|东南大学学报（自然科学版）|基于全波仿真和去嵌入测试相结合的ARM芯片PDN阻抗提取方法

基于全波仿真和去嵌入测试相结合的ARM芯片PDN阻抗提取方法

肖扬周忠元王海春任近静刘士宽

东南大学学报（自然科学版）2024，Vol.54Issue(5)：P.1283-1289,7.

东南大学学报（自然科学版）2024，Vol.54Issue(5)：P.1283-1289,7.DOI:10.3969/j.issn.1001-0505.2024.05.025

肖扬 ¹周忠元 ¹王海春 ¹任近静 ¹刘士宽¹

作者信息

全波仿真/去嵌入/贴片电子元件/阻抗

信息技术与安全科学

肖扬,周忠元,王海春,任近静,刘士宽..基于全波仿真和去嵌入测试相结合的ARM芯片PDN阻抗提取方法[J].东南大学学报（自然科学版）,2024,54(5):P.1283-1289,7.

国家自然科学基金资助项目(52077031). （52077031）

OA北大核心CSTPCD

ISSN：1001-0505

访问量4

下载量0

段落导航