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基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像

陈晓 戴杰

电子学报2024,Vol.52Issue(9):P.3262-3271,10.
电子学报2024,Vol.52Issue(9):P.3262-3271,10.DOI:10.12263/DZXB.20230878

基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像

陈晓 1戴杰2

作者信息

  • 1. 南京信息工程大学电子与信息工程学院,江苏南京210044 南京信息工程大学江苏省大气环境与装备技术协同创新中心,江苏南京210044
  • 2. 南京信息工程大学电子与信息工程学院,江苏南京210044
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摘要

关键词

概率成像/兰姆波/无损检测/缺陷/损伤/频散/希尔伯特谱

分类

信息技术与安全科学

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陈晓,戴杰..基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像[J].电子学报,2024,52(9):P.3262-3271,10.

电子学报

OA北大核心CSTPCD

0372-2112

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