基于离散2-D小波多级分解的电容器外观缺陷视觉检测方法OACSTPCD

电容器外观破损、凸起等缺陷直接影响器件的生产质量。目前电容器微小外观缺陷检测难度较大,导致视觉检测效率较低。为此提出了基于离散2-D小波多层分解的电容器外观缺陷视觉检测方法。采用同态滤波处理去除光照对电容器外观视觉检测结果的影响。利用像素点灰度值确定图像边缘点位置,提取电容器外观缺陷区域。应用离散2-D小波分解的方法对其展开多级分解。再差分统计电容器图像的外观缺陷纹理特征。将特征输入Mahalanobis分类器中,完成电容器外观缺陷视觉检测。仿真结果表明,所提方法可以较好检测电容的各种缺陷,召回率最低值是94.9%,误检率最高值为9.8%,漏检率均在10%以内,电容器缺陷检测效果较好。