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质子辐照诱发CCD片上放大器单管性能退化实验与仿真研究

晏石兴 王祖军 唐宁 吕玉冰 王小东 李传洲 蒋镕羽

原子能科学技术2024，Vol.58Issue(11)：P.2412-2418,7.
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原子能科学技术2024，Vol.58Issue(11)：P.2412-2418,7.DOI:10.7538/yzk.2023.youxian.0885

质子辐照诱发CCD片上放大器单管性能退化实验与仿真研究

晏石兴 1王祖军 2唐宁 1吕玉冰 3王小东 3李传洲 1蒋镕羽1

作者信息

  • 1. 湘潭大学材料科学与工程学院,湖南湘潭411105
  • 2. 湘潭大学材料科学与工程学院,湖南湘潭411105 强脉冲辐射环境模拟与效应全国重点实验室,西北核技术研究所,陕西西安710024
  • 3. 重庆光电技术研究所,重庆400060
  • 折叠

摘要

关键词

CCD/质子辐照/辐照注量/辐照损伤/退火测试

分类

能源科技

引用本文复制引用

晏石兴,王祖军,唐宁,吕玉冰,王小东,李传洲,蒋镕羽..质子辐照诱发CCD片上放大器单管性能退化实验与仿真研究[J].原子能科学技术,2024,58(11):P.2412-2418,7.

基金项目

国家自然科学基金(U2167208,11875223) （U2167208,11875223）

陕西省自然科学基础研究计划(2024JC-JCQN-10) （2024JC-JCQN-10）

全国重点实验室基金(NKLI-PR1803,NKLIPR2012,NKLIPR2113)。 （NKLI-PR1803,NKLIPR2012,NKLIPR2113）

原子能科学技术

OA北大核心CSTPCD

1000-6931

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