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低压直流断路器双金属片性能退化特性及机理分析

邢云琪 王子涵 杨广正 王妍 赵成晨

电工技术学报2024，Vol.39Issue(22)：P.7266-7277,12.
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电工技术学报2024，Vol.39Issue(22)：P.7266-7277,12.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.231721

低压直流断路器双金属片性能退化特性及机理分析

邢云琪 1王子涵 2杨广正 2王妍 2赵成晨3

作者信息

  • 1. 省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学),天津300130 人民电器集团有限公司,温州325600
  • 2. 省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学),天津300130
  • 3. 天津农学院工程技术学院,天津300392
  • 折叠

摘要

关键词

低压直流断路器/双金属片/有限元仿真/加速寿命试验/分子动力学

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邢云琪,王子涵,杨广正,王妍,赵成晨..低压直流断路器双金属片性能退化特性及机理分析[J].电工技术学报,2024,39(22):P.7266-7277,12.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(51937004)。 （51937004）

电工技术学报

OA北大核心CSTPCD

1000-6753

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