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消除容性泄漏的双激励高阻抗测量研究

王选择 蔡玉雄 李煜辰 王浩伟

华中科技大学学报（自然科学版）2024，Vol.52Issue(9)：P.149-155,164,8.
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华中科技大学学报（自然科学版）2024，Vol.52Issue(9)：P.149-155,164,8.DOI:10.13245/j.hust.240434

消除容性泄漏的双激励高阻抗测量研究

王选择 1蔡玉雄 2李煜辰 2王浩伟3

作者信息

  • 1. 湖北工业大学机械工程学院,湖北武汉430068 湖北省现代制造质量工程重点实验室,湖北武汉430068
  • 2. 湖北工业大学机械工程学院,湖北武汉430068
  • 3. 中国特种飞行器研究所结构腐蚀防护与控制航天科技重点实验室,湖北荆门448035
  • 折叠

摘要

关键词

交流电桥/高阻抗测量/容性泄漏/两步激励法/增量迭代法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王选择,蔡玉雄,李煜辰,王浩伟..消除容性泄漏的双激励高阻抗测量研究[J].华中科技大学学报（自然科学版）,2024,52(9):P.149-155,164,8.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(32071457) （32071457）

武汉市重点研发计划资助项目(2022012202015034)。 （2022012202015034）

华中科技大学学报（自然科学版）

OA北大核心CSTPCD

1671-4512

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