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基于UIS测试的Si/SiC级联器件雪崩特性分析

周郁明王倩张秋生刘航志

高压电器2024，Vol.60Issue(12)：P.113-121,131,10.

高压电器2024，Vol.60Issue(12)：P.113-121,131,10.DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2024.12.013

周郁明 ¹王倩 ¹张秋生 ¹刘航志¹

作者信息

固态断路器/Si/SiC级联器件/雪崩特性/电—热耦合仿真

信息技术与安全科学

周郁明,王倩,张秋生,刘航志..基于UIS测试的Si/SiC级联器件雪崩特性分析[J].高压电器,2024,60(12):P.113-121,131,10.

安徽省自然科学基金资助项目(2008085ME157)。（2008085ME157）

OA北大核心CSTPCD

ISSN：1001-1609

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