真空电子技术Issue(6)：P.71-76,6.DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2024.06.12
基于ANSYS的真空断路器温升仿真迭代方法验证及其应用
马朝阳 1赵晓民 1李旭旭 1李小钊 1孙广雷 1赵芳帅 1李永林 1毕迎华1
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摘要
关键词
真空断路器/温升/迭代仿真分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
马朝阳,赵晓民,李旭旭,李小钊,孙广雷,赵芳帅,李永林,毕迎华..基于ANSYS的真空断路器温升仿真迭代方法验证及其应用[J].真空电子技术,2024,(6):P.71-76,6.
