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AlGaN/GaN HEMT器件有效栅长和栅宽提取

吴淇暄 张贺秋 朱江 宁思源 代晓 王子坤 梁红伟

大连理工大学学报2025,Vol.65Issue(1):P.105-110,6.
大连理工大学学报2025,Vol.65Issue(1):P.105-110,6.DOI:10.7511/dllgxb202501013

AlGaN/GaN HEMT器件有效栅长和栅宽提取

吴淇暄 1张贺秋 1朱江 1宁思源 1代晓 1王子坤 1梁红伟1

作者信息

  • 1. 大连理工大学集成电路学院,辽宁大连116024
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摘要

关键词

AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管/器件参数/有效栅长/有效栅宽

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

吴淇暄,张贺秋,朱江,宁思源,代晓,王子坤,梁红伟..AlGaN/GaN HEMT器件有效栅长和栅宽提取[J].大连理工大学学报,2025,65(1):P.105-110,6.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(DUT20RC(3)042,DUT19RC(3)074,DUT19LK45) (DUT20RC(3)

大连市科技创新基金资助项目(2023JJ12GX013)。 (2023JJ12GX013)

大连理工大学学报

OA北大核心

1000-8608

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